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掃描式電子顯微鏡具備明場和暗場兩種模式

 更新時間:2019-11-20 點(diǎn)擊量:3539
掃描式電子顯微鏡具備明場和暗場兩種模式

掃描式電子顯微鏡是Phenom(飛納)產(chǎn)品中zui*的型號,在繼承了Phenom(飛納)*代(G1)產(chǎn)品操作方便、30秒快速成圖像、售后無憂等優(yōu)點(diǎn)的同時,電鏡分辨率和圖像質(zhì)量顯著提高。采用了壽命高達(dá)1500小時的新一代CeB6燈絲和分辨率更高,功能更全的光學(xué)顯微鏡,提高后的光學(xué)顯微鏡有聚焦功能,放大倍數(shù)在20-120倍之間,具備明場和暗場兩種模式。
 
  掃描電鏡的優(yōu)點(diǎn):
 
  ①有較高的放大倍數(shù),2-20萬倍之間連續(xù)可調(diào);
 
 ?、谟泻艽蟮木吧?,視野大,成像富有立體感,可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細(xì)微結(jié)構(gòu);
 
 ?、墼嚇又苽浜唵?。目前的掃描電鏡都配有X射線能譜儀裝置,這樣可以同時進(jìn)行顯微組織形貌的觀察和微區(qū)成分分析,因此它是當(dāng)今十分有用的科學(xué)研究儀器。
 
  掃描電子顯微鏡觀測電疇是通過對樣品表面預(yù)先進(jìn)行化學(xué)腐蝕來實(shí)現(xiàn)的,由于不同極性的疇被腐蝕的程度不一樣,利用腐蝕劑可在鐵電體表面形成凹凸不平的區(qū)域從而可在顯微鏡中進(jìn)行觀察。因此,可以將樣品表面預(yù)先進(jìn)行化學(xué)腐蝕后,利用掃描電子顯微鏡圖像中的黑白襯度來判斷不同取向的電疇結(jié)構(gòu)。對不同的鐵電晶體選擇合適的腐蝕劑種類、濃度、腐蝕時間和溫度都能顯示良好的疇圖樣。掃描電子顯微鏡觀察到的PLZT材料的90°電疇。掃描電子顯微鏡與其他設(shè)備的組合以實(shí)現(xiàn)多種分析功能。
 

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