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飛納電鏡彩色成像,給你的掃描電鏡來(lái)點(diǎn)“顏色”看看

 更新時(shí)間:2024-07-29 點(diǎn)擊量:578

隨著工業(yè)生產(chǎn)日益復(fù)雜和產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)不斷提高,部件的質(zhì)量控制和生產(chǎn)速度變得越來(lái)越重要。對(duì)于實(shí)驗(yàn)室和質(zhì)量管理負(fù)責(zé)人而言,往往需要在技術(shù)人員較少、時(shí)間有限的情況下提供分析結(jié)果。目前,標(biāo)準(zhǔn)的行業(yè)解決方案是將用于獲取結(jié)構(gòu)信息的掃描電子顯微鏡(SEM)與能量色散 X 射線光譜(EDS)探測(cè)器相結(jié)合,進(jìn)行樣品的化學(xué)元素分析表征。

 

EDS 提供的元素信息可以給質(zhì)量分析提供指導(dǎo)方向,然而將掃描電鏡(SEM)與 EDS 割裂為兩個(gè)獨(dú)立的設(shè)備會(huì)導(dǎo)致用戶體驗(yàn)不夠友好。比如:需要不斷地在高低倍數(shù)間切換來(lái)完成樣品尋找和成像;需要在兩個(gè)系統(tǒng)間不斷進(jìn)行數(shù)據(jù)同步和關(guān)聯(lián);獨(dú)立的硬件和軟件需求會(huì)導(dǎo)致兼容性問(wèn)題和維護(hù)困難;數(shù)據(jù)分析可能會(huì)很麻煩并且需要很長(zhǎng)時(shí)間;操作人員需要更長(zhǎng)時(shí)間的專(zhuān)門(mén)培訓(xùn)。

 

飛納電鏡推出的 ChemiSEM 技術(shù),將掃描電鏡(SEM)形貌觀察與 EDS 成分分析相結(jié)合,讓工作流程更加流暢,簡(jiǎn)化了許多材料(包括金屬、陶瓷、電池、涂層、水泥和軟物質(zhì)材料等)的分析流程:通過(guò)彩色元素分布圖與掃描電鏡(SEM)圖像的實(shí)時(shí)疊加,在成像同時(shí)提供高質(zhì)量的成分定性定量信息。

 

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ChemiSEM 分析技術(shù)在易用性、便利性和速度上的提升,可以更快、更輕松地提供元素信息,降低每個(gè)樣品分析測(cè)試的成本,更好地服務(wù)于質(zhì)量分析過(guò)程。

 

對(duì)于您的實(shí)驗(yàn)室

 

ChemiSEM 提供了一個(gè)簡(jiǎn)單易行的解決方案,易于安裝和使用,始終處于開(kāi)啟狀態(tài),并且能夠在最少的訓(xùn)練和培訓(xùn)下提供可靠的結(jié)果。

 

對(duì)于您的團(tuán)隊(duì)

 

ChemiSEM 延長(zhǎng)了設(shè)備有效機(jī)時(shí),增加了樣品吞吐量,從而提高了材料分析的質(zhì)量和數(shù)量。

 

PART.01 實(shí)時(shí)分析獲取更深層的信息

 

所有的 SEM-EDS 分析本質(zhì)上都是復(fù)雜的,對(duì)于產(chǎn)品故障分析和污染物識(shí)別等應(yīng)用,研發(fā)需要不斷改進(jìn)質(zhì)量控制(QC)和故障分析(FA)流程,以更好地解決出現(xiàn)的問(wèn)題。

 

ChemiSEM 技術(shù)的實(shí)時(shí)分析在質(zhì)量控制和生產(chǎn)效率提升方面提供了優(yōu)勢(shì)。它的 EDS 集成在儀器中,并在電鏡工作時(shí)始終在后臺(tái)收集成分?jǐn)?shù)據(jù),逐步建立樣品更全面和詳細(xì)的信息,幫助您更快地定位到關(guān)鍵質(zhì)量問(wèn)題

 

PART.02 實(shí)時(shí)定量面掃:不再有分析干擾

 

傳統(tǒng)的元素分析中,復(fù)雜樣品元素分布和相分布面掃并不能及時(shí)得到精確的結(jié)果。例如,一個(gè)峰的信號(hào)有時(shí)會(huì)被識(shí)別為兩個(gè)元素,產(chǎn)生錯(cuò)誤,干擾樣品Q(chēng)C 問(wèn)題的判斷。

 

憑借創(chuàng)新的算法和智能光譜擬合,ChemiSEM 技術(shù)可以幫助您的實(shí)驗(yàn)室團(tuán)隊(duì)實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確的元素識(shí)別和量化——即使在處理多個(gè)重疊元素時(shí)也是如此。

 

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ChemiSEM 定量面掃

 

ChemiSEM 技術(shù)自動(dòng)處理原始信號(hào),生成定量面掃結(jié)果。數(shù)據(jù)被很好地解析,能夠有效避免和峰和重疊峰的影響。并且同時(shí)處理 BSE(背散射電子)和 EDS 信號(hào),從而可以實(shí)時(shí)顯示樣品的形態(tài)和元素定量結(jié)果。

 

PART.03 無(wú)偏差相分析

 

傳統(tǒng)的相分析高度依賴(lài)于對(duì)樣品的假設(shè),當(dāng)存在譜峰重疊或強(qiáng)度不足而遺漏了元素時(shí),這可能會(huì)是一個(gè)問(wèn)題。

 

有了 ChemiPhase(ChemiSEM 技術(shù)中的一項(xiàng)新功能)后,可以避免這種情況。復(fù)雜樣品的分析能夠做到無(wú)偏差,可以基于數(shù)據(jù)單元中所有光譜結(jié)果,系統(tǒng)地識(shí)別每個(gè)獨(dú)立的相。隨后,數(shù)據(jù)分析可以在沒(méi)有任何元素預(yù)定義的情況下自動(dòng)運(yùn)行,無(wú)需豐富經(jīng)驗(yàn)即可定位次要/微量元素,明確識(shí)別主要和次要成分,完成更深入、更全面的分析。

 

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地質(zhì)切片分析

 

使用 ChemiPhase 對(duì)地質(zhì)切片的分析,每個(gè)相的能譜成分被自動(dòng)提取和計(jì)算,可以將不同礦物相有效區(qū)分。

 

PART.04 自動(dòng)樣品漂移校正

 

成分分析過(guò)程中,準(zhǔn)確和有效的定量結(jié)果需要一個(gè)正確且穩(wěn)定的樣品位置信息。

 

通常在圖像漂移的情況下,研究人員需要多次重新獲取分析數(shù)據(jù),或者等待樣品停止漂移后再獲取數(shù)據(jù),這兩種方式都會(huì)降低測(cè)試效率。

 

通過(guò)不斷監(jiān)控樣品位置,ChemiSEM 軟件提供自動(dòng)樣品漂移校正,使高倍率操作和較長(zhǎng)時(shí)間的能譜采集成為可能。幫助大家節(jié)省寶貴的時(shí)間和精力,專(zhuān)注于更重要的事情:盡快獲取最高質(zhì)量的數(shù)據(jù)。

 

 

簡(jiǎn)而言之,ChemiSEM 技術(shù)提供高質(zhì)量的分析結(jié)果。它在大量的操作參數(shù)范圍內(nèi)進(jìn)行了優(yōu)化,即使在存在多個(gè)重疊峰的情況下也能提供可靠的數(shù)據(jù)結(jié)果。智能光譜擬合根據(jù)精確的參數(shù)設(shè)置自動(dòng)驗(yàn)證元素,為獲得的結(jié)果提供保證。

 



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